并行烧录解决方案

可替代传统ICT上的单芯片烧录方案,加快烧录速度,提高生产率,该方案可灵活地运用在ICT/FCT/单机环境,满足消费类电子产品的测试系统小型化,规模化,低成本的要求;尤其适用于需要批量烧录,对cycle time要求快速的环境

适用于

随着近年自动化的飞速发展,并行烧录势必成为大幅提高产能的利器。SiFO的并行烧录解决方案,能同时烧录及验证数十个UUT

特点

可单独应用或集成到ICT/FCT研发出用Altera NIOS II Software Core + Verilog technology对联板进行同步烧录的驱动,比串行烧录速度提升数十倍所有烧录协议兼容MCU标准,并可由通用的烧录器验证(如Renesas PG-FP5,Atmel MKII)

 例: 24联片烧录(可至72联片)image137

 

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